超聲波對(duì)比試塊無(wú)損探傷試塊

簡(jiǎn)要描述：產(chǎn)品型號(hào)和價(jià)格
A型T=25mm 2050
A型支架3# 1600
B型T=50mm 3150
B型支架5# 1600
C型T=100mm 4600
C型支架6# 1600
D型T=200mm 6000
D型支架8# 2200
E型T=400mm 22500
E型支架 2200
超聲波對(duì)比試塊無(wú)損探傷試塊

產(chǎn)品型號(hào)：TOFD-A/B/C/D/E
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2025-09-17
訪問(wèn) 量：10852

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詳情介紹

超聲波對(duì)比試塊無(wú)損探傷試塊

一、首先檢測(cè)前需要對(duì)檢測(cè)靈敏度進(jìn)行確定，確定的方法一般應(yīng)采用對(duì)比試塊來(lái)進(jìn)行。

根據(jù)NB 47013.10 衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求：

1.當(dāng)采用對(duì)比試塊上的反射體設(shè)置靈敏度時(shí)，需要將較弱的衍射信號(hào)波幅設(shè)置為滿屏高的40%-80%，并在被檢工件表面掃查時(shí)進(jìn)行表面耦合補(bǔ)償。

2.當(dāng)被檢工件厚度不大于50mm且采用單通道檢測(cè)時(shí)，也可直接在被檢工件上進(jìn)行靈敏度設(shè)置，一般將直通波的波幅設(shè)置到滿屏高的40%-80%。

3.當(dāng)然也可以使用對(duì)比試塊進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)于壁厚12mm≤t≤25mm的試塊，應(yīng)至少設(shè)置3個(gè)反射體，包括一個(gè)試塊表面的矩形槽，掃查面下4mm處一個(gè)2mm側(cè)孔，以及一個(gè)1/2t處尖槽或者一個(gè)側(cè)孔。（具體要求參見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)）

如果用對(duì)比試塊進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)，則需要對(duì)比試塊上較弱的缺陷信號(hào)調(diào)至40%-80%之間。

TOFD（Time of Flight Diffraction）技術(shù)是一種基于衍射信號(hào)實(shí)施檢測(cè)的技術(shù)，即衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)技術(shù)。總的來(lái)說(shuō)。

二、TOFD技術(shù)有很多優(yōu)點(diǎn)：

1、可靠性好，由于利用的是波的衍射信號(hào)，不受聲束角度的影響，缺陷的檢出率比較高。

2、定量精度高。

3、檢測(cè)過(guò)程方便快捷。一般一人就可以完成TOFD檢測(cè)，探頭只需要沿焊縫兩側(cè)移動(dòng)即可。

4、擁有清晰可靠的TOFD掃查圖像，與A型掃描信號(hào)比起來(lái)，TOFD掃查圖像更利于缺陷的識(shí)別和分析。

5、TOFD檢測(cè)使用的都是高性能數(shù)字化儀器，記錄信號(hào)的能力強(qiáng)，可以全程記錄掃查信號(hào)，而且掃查記錄可以長(zhǎng)久保存并進(jìn)行處理。

6、除了用于檢測(cè)外，還可用于缺陷變化的監(jiān)控，尤其對(duì)裂紋高度擴(kuò)展的測(cè)量精度很高。

但是TOFD技術(shù)也有它自身的局限性：

1、對(duì)近表面缺陷檢測(cè)的可靠性不夠。上表面缺陷信號(hào)可能被埋藏在直通波下面而被漏檢，而下表面缺陷則會(huì)因?yàn)楸坏酌娣瓷洳ㄐ盘?hào)掩蓋而漏檢。

2、缺陷定性比較困難。